多功能超声波测厚仪
产品型号： CMXDL
所属分类：超声波测厚仪
产品时间：2021-01-15
简要描述：多功能超声波测厚仪CMX/CMXDL：可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。
详情介绍
多功能超声波测厚仪CMX/CMXDL产品信息：
可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得Best的性价比。
CMX
除了常规的超声波测厚仪的功能外，增加了B-扫描功能和多种测量模式，包括：
-脉冲-回波(P-E)模式，测量材料厚度
-脉冲-回波涂层(PECT)模式，同时测量材料厚度和涂层厚度
-脉冲-回波温度补偿(PETP)模式，测量材料厚度
-回波-回波(E-E)模式，穿过涂层测量材料厚度
-回波-回波验证(E-EV)模式，穿过涂层测量材料厚度
-测量涂层(CT)模式，只测量涂层厚度
CMXDL
在CMX的超声波测厚仪基础上，增加了存储功能。
CMXDL+
在CMXDL超声波测厚仪的基础上，增加了A扫描功能，多种探头类型(包括双晶探头、单晶延迟块探头、单晶接触型探头、单晶笔形探头)，另有彩色屏幕主机可选。
多功能超声波测厚仪CMX/CMXDL技术参数：
测量
脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63～1219.2mm(钢)
脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63～1219.2mm(钢)，0.0254~2.54mm(涂层)
脉冲-回波温度补偿(PETP)模式测量范围：0.63～1219.2mm(钢)
回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层)
分辨率：0.01mm
声速范围：309.88～18542m/s
单位：公制或英制
校准：一点和两点校准方式
显示
显示屏：1/8英寸VGA灰色显示，240x160象素。可视区62x45.7mm，EL背光
B-扫描方式：基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数
大数字方式：标准厚度显示，数字高度17.78mm
厚度条形扫描：速度10Hz，在B-扫描和大数字显示模式中可见
稳定度指示：表示测量值的稳定性
功能状态指示：显示当前激活的功能
超声波参数
测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
脉冲：可调方波脉冲发生器
接收：根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制
计时：单次100MHz8位超低功耗数字化仪的PreciseTCXO计时
脉冲重复频率：250Hz
探头
频率范围：1~10MHz
双晶探头
LEMO接口，1.2米探头线
可定制用于特殊应用的探头
存储(仅CMXDL)
容量：内置4GBSD卡
数据结构：网格(字母数字)和顺序(自动识别)
屏幕捕获：位图图形捕获，用于快速记录
数据输出：通过USB Type-C连接的计算机
其他
键盘：12个触摸键
电源：标配为三节5号碱性电池，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装
工作温度：-10～60℃
尺寸：63.5x165x31.5mm
重量：含电池385g
包装：ABS工程塑料箱
出厂证书：工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准
常用探头
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